Status der Bestellung anzeigen

Werden Sie Teil einer Gemeinschaft von Buchliebhabern aus der ganzen Welt und erhalten Sie eine Reihe von Vorteilen. Konto kostenlos anlegen

Kostenloser Versand mit Zásilkovna ab 69.99 €

DHL-Kurier 9.99 € Elta-Stelle 3.99 € Elta 4.49 € ACS 4.99 € ACS-Stelle 4.99 € Box Now 3.99 €

Kontakt

Wie einkaufen

Hilfe

Mein Konto

▸ Leer :-(

Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 09062252
Price: 103.38 EUR
Availability: InStock
Author: Girard
ISBN: 9781489983145

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Girard

Patrick

PH.

Sprache

Englisch

Buch Broschur

Libristo-Code: 09062252

Verlag Springer-Verlag New York Inc., September 2014

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 09062252

251 b

103.38 €

Externes Lager Wir versenden in 5-8 Tagen

Lieferung in Griechenland

30 Tage für die Rückgabe der Ware

Kunden kauften auch

Jak říct ne cukru Katherine Bassford

Broschur

1.81 €

Die Schule der magischen Tiere 13: Bravo, bravissimo! Andreas Fröhlich

Audio CD

10.29 €

Zamrzlý vesmír Martin Gilar

Broschur

5.34 €

Synthèse du CuInS2 en couche mince pour application photovoltaïque Mohamed Rafi

Broschur

57.74 €

Gedichte Wilhelm Hauff

Broschur

8.98 €

Das europäische Ödland Richard Grieb

Broschur

17.86 €

Eco Homes in Unusual Places PATRICIA MARTINEZ

Hardcover

22.91 €

Abuelo, ¿Cómo habéis consentido esto? JOAQUIN ESTEFANIA

Hardcover

21.19 €

Le cheval et son ecuyer Clive Staples Lewis

Broschur

17.05 €

Aprende los números Equipo Susaeta

Broschur

1.40 €

Ginger and Pickles (Simplified Chinese): 10 Hanyu Pinyin with IPA Paperback Color H y Xiao Phd

Broschur

39.17 €

Chambre de Commerce de Marseille. Reglementation de la Circulation Des Sucres Et Du Sucrage Desbief-P

Broschur

13.32 €

Energía y poder De Luis Iglesias

Broschur

22.30 €

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Schauspielerin & Polyglotte

EWA KASP für

Video abspielen

Libristo bietet die größte Auswahl an fremdsprachiger Literatur an. Deshalb kaufe ich meine Bücher hier ein.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name Advanced Test Methods for SRAMs

Autor Girard, Patrick, PH.

Sprache

Englisch

Einband Buch - Broschur

Datum der Veröffentlichung 2014

Anzahl der Seiten 171

EAN 9781489983145

ISBN 9781489983145

Libristo-Code 09062252

Verlag Springer-Verlag New York Inc.

Gewicht 297

Abmessungen 155 x 235 x 235

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein

EDV und Informationstechnologie > Grafische und digitale Media-Anwendungen > Computer-Aided Design (CAD)

Verschenken Sie dieses Buch noch heute

Es ist ganz einfach

1 Legen Sie das Buch in Ihren Warenkorb und wählen Sie den Versand als Geschenk 2 Wir schicken Ihnen umgehend einen Gutschein 3 Das Buch wird an die Adresse des beschenkten Empfängers geliefert