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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 I. Rechenberg
Libristo-Code: 06681091
Verlag Taylor & Francis Ltd, Januar 1998
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic... Vollständige Beschreibung
? points 1105 b
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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Autor I. Rechenberg
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 1998
Anzahl der Seiten 524
EAN 9780750305006
ISBN 9780750305006
Libristo-Code 06681091
Verlag Taylor & Francis Ltd
Gewicht 1170
Abmessungen 156 x 234 x 30

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik > Materialwissenschaft / Aggregatzustände > Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Elektronische Geräte und Materialien
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft
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