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High-Resolution X-Ray Scattering

Name: High-Resolution X-Ray Scattering
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01382119
Price: 145.11 EUR
Availability: InStock
Author: Ullrich Pietsch
ISBN: 9780387400921

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Ullrich Pietsch

Vaclav Holy

Tilo Baumbach

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 01382119

Verlag Springer-Verlag New York Inc., August 2004

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for th... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 01382119

351 b

145.11 €

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The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name High-Resolution X-Ray Scattering

Autor Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2004

Anzahl der Seiten 408

EAN 9780387400921

ISBN 0387400923

Libristo-Code 01382119

Verlag Springer-Verlag New York Inc.

Gewicht 860

Abmessungen 155 x 235 x 22

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Chemie > Physikalische Chemie > Oberflächenchemie und Adsorption

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Elektronische Geräte und Materialien

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Andere Technologien und verwandte Wissenschaften > Angewandte Optik > Lasertechnik und Holographie

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik > Materialwissenschaft / Aggregatzustände

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Nanotechnologie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft

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