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Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy Wai-Kin Chim
Libristo-Code: 04891639
Verlag John Wiley & Sons Inc, November 2000
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more comple...
? points 617 b
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Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
Autor Wai-Kin Chim
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2000
Anzahl der Seiten 288
EAN 9780471492405
ISBN 047149240X
Libristo-Code 04891639
Verlag John Wiley & Sons Inc
Gewicht 716
Abmessungen 176 x 262 x 21

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Fertigungstechnik und Ingenieurwesen > Industrielle Qualitätskontrolle
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Elektronische Geräte und Materialien
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