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VLSI Design and Test
21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Sprache
Englisch
Englisch
E-Book
Adobe ePub DRM
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design an...
Vollständige Beschreibung
Libristo-Code: 41333749
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291 b
291 b
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This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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Informationen zum Buch
Vollständiger Name
VLSI Design and Test
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
E-Book - Adobe ePub DRM
Datum der Veröffentlichung
2017
EAN
9789811074707
Libristo-Code
41333749
Verlag
Springer
