Έλεγχος κατάστασης παραγγελίας

Γίνετε μέλος μιας κοινότητας βιβλιόφιλων από όλο τον κόσμο και επωφεληθείτε από πολλά προνόμια. Δημιουργία δωρεάν λογαριασμού

Δωρεάν αποστολή με Box Now άνω των 69.99 €

DHL courier 9.99 € Σημείο Elta 3.99 € Elta 4.49 € ACS 4.99 € Σημείο ACS 4.99 € Box Now 3.99 €

Επικοινωνία phone

Πώς να κάνετε αγορές;

Βοήθεια

Ο λογαριασμός μου

▸ Άδειο :-(

Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 09062252
Price: 103.68 EUR
Availability: InStock
Author: Girard
ISBN: 9781489983145

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Girard

Patrick

PH.

Γλώσσα

Αγγλική

Βιβλίο Χαρτόδετο

Κωδικός Libristo: 09062252

ΕΕκδοτικός οίκος Springer-Verlag New York Inc., Σεπτέμβριος 2014

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR... Πλήρης περιγραφή

Κωδικός Libristo: 09062252

251 b

103.68 €

Εξωτερικός αποθηκευτικός χώρος Αποστέλλουμε σε 5-8 ημέρες

Παράδοση στην Ελλάδα

30 ημέρες για την επιστροφή των προϊόντων

Οι πελάτες αγόρασαν επίσης

Jak říct ne cukru Katherine Bassford

Χαρτόδετο

1.81 €

Die Schule der magischen Tiere 13: Bravo, bravissimo! Andreas Fröhlich

Audio CD

12.24 €

Zamrzlý vesmír Martin Gilar

Χαρτόδετο

5.36 €

Synthèse du CuInS2 en couche mince pour application photovoltaïque Mohamed Rafi

Χαρτόδετο

57.91 €

Gedichte Wilhelm Hauff

Χαρτόδετο

9.00 €

Das europäische Ödland Richard Grieb

Χαρτόδετο

17.91 €

Eco Homes in Unusual Places PATRICIA MARTINEZ

Σκληρόδετο

22.98 €

Abuelo, ¿Cómo habéis consentido esto? JOAQUIN ESTEFANIA

Σκληρόδετο

21.25 €

Le cheval et son ecuyer Clive Staples Lewis

Χαρτόδετο

17.10 €

Aprende los números Equipo Susaeta

Χαρτόδετο

1.41 €

Ginger and Pickles (Simplified Chinese): 10 Hanyu Pinyin with IPA Paperback Color H y Xiao Phd

Χαρτόδετο

39.28 €

Chambre de Commerce de Marseille. Reglementation de la Circulation Des Sucres Et Du Sucrage Desbief-P

Χαρτόδετο

13.36 €

Energía y poder De Luis Iglesias

Χαρτόδετο

22.37 €

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Ηθοποιός & Πολύγλωσση

EWA KASP για

Αναπαραγωγή βίντεο

το Libristo διαθέτει τη μεγαλύτερη επιλογή ξενόγλωσσων βιβλίων. Γι' αυτό αγοράζω τα βιβλία μου εδώ.

Πληροφορίες για το βιβλίο

Πλήρες όνομα Advanced Test Methods for SRAMs

Συγγραφέας Girard, Patrick, PH.

Γλώσσα

Αγγλική

Βιβλιοδεσία Βιβλίο - Χαρτόδετο

Ημερομηνία έκδοσης 2014

Αριθμός σελίδων 171

EAN 9781489983145

ISBN 9781489983145

Κωδικός Libristo 09062252

ΕΕκδοτικός οίκος Springer-Verlag New York Inc.

Βάρος 297

Διαστάσεις 155 x 235 x 235

Κατηγορία

Technology, Engineering, Agriculture > Electronics & communications engineering > Electronics engineering > Electronics: circuits & components

Technology, Engineering, Agriculture > Technology: general issues > Engineering: general

Computing & Information Technology > Graphical & digital media applications > Computer-aided design (CAD)

Χαρίστε αυτό το βιβλίο σήμερα

Είναι εύκολο

1 Προσθέστε το βιβλίο στο καλάθι σας και επιλέξτε παράδοση ως δώρο 2 Ως ανταμοιβή θα σας στείλουμε ένα κουπόνι 3 Το βιβλίο θα φτάσει στη διεύθυνση του παραλήπτη