Επικοινωνία
Πώς να κάνετε αγορές;
Παράδοση
Οδηγός αγορών
Αγγλική
131 b
Παράδοση στην Ελλάδα
30 ημέρες για την επιστροφή των προϊόντων
Οι πελάτες αγόρασαν επίσης
/
Χαρτόδετο
10.80
€
/
Χαρτόδετο
10.20
€
/
Χαρτόδετο
70.32
€
Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.
Πληροφορίες για το βιβλίο
Αγγλική
Κατηγορία
Χαρίστε αυτό το βιβλίο σήμερα
Είναι εύκολο
1 Προσθέστε το βιβλίο στο καλάθι σας και επιλέξτε παράδοση ως δώρο 2 Ως ανταμοιβή θα σας στείλουμε ένα κουπόνι 3 Το βιβλίο θα φτάσει στη διεύθυνση του παραλήπτηΜπορεί να σας ενδιαφέρει
/
Χαρτόδετο
15.25
€
/
Χαρτόδετο
8.98
€
/
Χαρτόδετο
31.42
€
/
Χαρτόδετο
19.29
€
/
Χαρτόδετο
32.12
€